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产品分类 |
光谱检测分析仪
HORIBA荧光光谱仪QuantMaster 8000
Orient KOJI液氮低温杜瓦附件LN2030
HORIBA三维荧光及吸收光谱仪Duetta
飞秒瞬态吸收/拉曼光谱仪fs-TAS
高效型CL光谱仪HCLUE
超快成像拉曼光谱仪-XploRA PLUS XS
射频辉光放电光谱仪GD-Profiler HR
模块式荧光光谱仪-Fluorolog-3
HORIBA JY高性能荧光寿命分析仪-DeltaPro
HORIBA科研级荧光光谱仪FluoroMax+
光学仪器及设备
ISS三维纳米成像及单分子跟踪套件
ISS升级激光共焦扫描显微镜到FLIM/FCS系统
ISS超分辨激光共焦扫描显微镜Alba-STED
滨松C12741-03 InGaAs红外相机
ISS激光共聚焦快速荧光寿命成像系统FLIM/FCS
滨松sCMOS相机ORCA-Flash4.0 LT
滨松sCMOS相机ORCA-Flash 4.0 V2
显微拉曼荧光成像综合测试系统
光学平台
上转换荧光寿命测试模块
元素分析仪
SLFA-UV21A紫外荧光法硫分析仪
EMIA-220V红外碳硫分析仪
EMIA-320V红外碳硫分析仪
EMIA-820V红外碳硫分析仪
EMGA-600W氧/氮/氢联合分析仪
EMGA-620W/C氧/氮分析仪
EMGA-620W氧/氮分析仪
激光粒度仪
大塚小角激光散射仪PP-1000
Horiba激光散射粒度分布分析仪(LA-950V2)
HORIBA LA960激光粒度仪
HORIBA纳米粒度分析仪
HORIBA激光散射粒度分布分析仪
X射线仪器
HORIBA X射线分析显微镜
HORIBA X-ray荧光光谱仪
制冷设备
Oxford无液氦光谱学恒温器Optistat Dry
Cryo-77液氮低温恒温器
石油专用分析仪器
SLFA-20荧光X射线硫分析仪
SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪
成像系统
时间分辨小动物活体荧光成像系统i-NIR-II
联系方式 |
产品系列
激光共焦多维成像系统:
FLIM / FCS 时间分辨的空间分辨显微系统:
ISS 推出新一代的快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM。成像速度可达 20 fps (@256×256),自由选择1×1到4096×4096像元分辨率;同时获取荧光寿命成像和共焦强度成像数据,保持单分子级的检测灵敏度。
用于化学、纳米、能源、生物等学科方向,单分子、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究。满足上转换量子点及相关材料的寿命成像测试。。
ISS以整机的荧光寿命成像系统为己任,实现共焦三维扫描模块(针孔,二维振镜、压电台或自动工作台)和时间分辨模块的**结合,提供<100ps-100ms的全时域荧光寿命检测;同时软件融合Phasor Plots荧光寿命直读半圆规的矢量图技术,可视化、直观的提供荧光寿命分布及数值。
荧光寿命成像数据分析进入直读时代。
ISS 激光共焦扫描荧光寿命成像系统,还可以同时满足以下特殊需要:
1. 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像;
2. 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像;
3. 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像;
4. 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ;
5. 光谱采集及光谱成像;
6. AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用;
7. 纳米颗粒三维跟踪;(专有技术)
主要功能描述:(可以选择双光子功能)
激光共焦荧光强度成像LCM;
荧光寿命成像FLIM,磷光寿命成像PLIM;
上转换荧光(寿命)成像,稀土发光(寿命)成像,延迟荧光(寿命)成像;
荧光波动成像FFS(FCS,FCCS, PCH,N&B, RICS, FLCS,scan-FCS),
FLIM-FRET成像;荧光定量成像;
单量子点发光(寿命)成像,单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET,包括交替激发PIE成像;
稳态及瞬态偏振成像;
微区荧光光谱采集 400-1100nm;
反聚束测试(含专业软件);
活细胞工作站升级(含多孔板)
仪器特点:
实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势,FRET效率分布;
选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器,2-4通道检测器,用于成像,FLIM-FRET;
可以升级无波长干扰AFM(正置或倒置),实现同区域形貌和FLIM同步测试;
紫外-可见-红外激发波长,单波长或超连续激光器;单光子或双光子的激光器;
主要技术指标
1. 荧光寿命测试范围:100ps-100ms;
2. *小时间分辨率≤1ps;
3. 数据计数速率:65 MHz/channel
4. 检测通道:upto 8 channels;
5. 标配xy振镜扫描,5kHz扫描频率,配合xy闭环自动台实现大区域扫描;
6. Phasor plots 用于数据分析;
7. 光谱采集;400-1100nm
8. 扫描透射成像;
9. 界面聚焦系统;
10. 变温附件;77k-500k;